STM32F407VGT6引脚图

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所谓的支撑装置STM32 LCD液晶（LCD与控制器）支持总线接口，该文件还指定6800个8080个总线或总线，这种LCD挂在STM32 FSMC LCD驱动器芯片控制的一般操作，它是直接驱动RGB接口LCD（LCD而不控制器）74hc00引脚图。

如何确定IC测试

一个质量的质量，这种方法并不IC不焊接到执行时

路径检测的电路，一般可用万用表阳性和对应于所述销接地销之间的负电阻值，IC是完整的等等。

第二、它是一个路径检测

IC检测通过在所述定位销通道的万用表（IC电路中的）直流电阻，直流电压检测方法和其总的工作电流横地面。此方法克服了需要有测试方法换人集成电路IC的局限性和拆卸麻烦检测用IC是最常见和实用的方法。 2、

直流电压这是当通电后，用万用表直流电压的直流电源电压的量度

，所述外围设备的工作电压被测量; IC检测的每个销的直流电压值到地，并与正常值由此范围压缩故障时，故障的组件。要注意的是以下八个测量：

（1）有足够大的电阻万用表，比被测电路的电阻值大10倍以上，以避免大的测量误差。

（2）每一个通常为旋转电位到中间位置时，如果TV信号源到标准色条信号发生器。

（3）的引线或探针采取防滑。对于任何瞬间短路很容易损坏IC。采取如下方法可能会导致防止滑动：取套筒笔里面的一些自行车阀在桌子上，并且该表生长约0、5mm，这不仅使与测试点的尖端表良好接触尖端，并能有效地防止打滑，即使如果它不会碰到相邻的点短路。 74ls00引脚图及功能表。

（4）当与正常值所测量的电压不匹配的销，以根据显著冲击销电压IC工作的存在或不存在和在相应的电压变化，一个好的判断IC坏其他引脚被分析。

（5）IC引脚的电压将外部元件的影响而受到影响。当外围组件，短路，开路或变化值，或者外围电路被连接到可变电阻电位器，电位器滑动的不同位置的臂，以使销的电压变化发生泄漏。

（6）当销IC电压正常时，它通常被认为是正常的IC; IC如果异常电压销部，应该从正常值的最大偏差，开始时，检查外围元件无故障，无故障，对IC它可能会损坏。

（7），用于接收动态装置，例如电视机，当存在或不存在的信号时，IC的引脚电压是不同的。发现销的电压变化，但不应该是大的变化，但不与在该信号幅度和在不同的位置可调节的元件的变化的变化，可确定IC的损坏。 （8）用于74ls283引脚图及功能。

多种模式，如VCR，以不同的方式工作，集成电路管脚的电压是不同的。为了掌握lm324引脚图。

请大神指导下STM32F407的各引脚定义

AC信号3、

AC电压测量IC的变化，可以用千斤顶分贝万用表交流电压被用于近似IC测量。 AC电压检测块万用表，正极引线插入插孔分贝;无插孔分贝万用表，串联连接的需要导致了积极的0、1〜0、5μF阻塞电容器。它适用于一个较低的工作频率的IC，诸如电视视频放大级，场扫描电路。因为这些电路的不同的固有频率，不同的波形，使得所测量的数据仅供参考近似值。 4、 7805引脚图。

的总电流的测量方法是这样的方法检测所述电力线的总电流ic，来判断的方法的IC的质量。由于绝大多数内部IC直接耦合的，当IC被破坏（例如，一个pn结击穿或打开）将导致级饱和和截止，使得总电流的变化。 IC好坏可以通过测量总电流的方法来判断。功率也可以通过电阻器两端的电压降测量的总电流值是使用欧姆定律计算出来。确定晶体管式的搜索结果歧视管型和管脚晶体管是为了帮助读者快速掌握确定方法的基础电子技术的初学者，笔者总结四个公式：“三颠倒，找基地; PN路口，管式;顺箭头，大变形;不确定性，动口“让我们解释一下它以前公布。

反转找到基

我们知道一个三、晶体管是含有两个PN结的半导体器件。这两种不同的PN结的连接，可以分为两种不同类型的NPN导电类型和PNP晶体管。为了测试lm317引脚图。

晶体管万用表欧姆块，并选择R×100或R×1K齿轮。对于具有指针，它被连接到红色笔万用表，电池在表中的负电极，黑笔连接到电池中的表中的正极。假设我们不知道BJT是NPN或PNP型，不能告诉每个引脚电极。第一步是确定哪些测试是销钉基座。此时，我们采取任何两个电极（例如，两个电极1,2），两个用万用表测试引线颠倒测量其正面和手的负电阻观察到偏转角;然后，再取1、两个电极3和两个电极2和3、分别测量它们的反向正和负电阻观察到偏转角手。在这三个测量

转回的金额，必须有两个测量是相似的：即扭转偏转测量大手，小挠度;该措施之前和之后的剩余时间必须扭转指针偏转角度很小，不是这个测量的时间鸟脚就是我们正在寻找的基地。 9013引脚图。

2、PN结，固定管状

识别基极晶体管，我们可以根据上述基极之间的PN结确定导电型用电极管和其它两个方向。万用表黑笔基极接触，红色笔的其他联系人的任何一个的两个电极，如果表指针偏转角大，则管类型是NPN BJT;如果表指针偏转角小，试管是PNP型。

3、沿着箭头，大变形STM32F407VGT6引脚图

识别底座B，两个额外电极其中C是集电极，发射极，其中是则E？然后，我们可以通过穿透电流ICEO的测量方法确定的集电极和发射极E℃。

（1），用于NPN晶体管，所述NPN晶体管渗透电流流动的原则，与黑色的万用表，红色笔颠倒测量正和负电阻建议RCE和磁极之间，虽然两个测量仪表指针偏转角非常小，但仔细观察，总是会有偏转的略微较大的角度，此时流动的电流必须为：黑笔极→B→C→e极电极→红色笔，和晶体管电流流动只是箭头符号的方向一致，所以在这种情况下，黑笔是集电极触点C必须的，红色导线连接必须是一个发射极E。 lm393引脚图。

（2）为PNP晶体管，其原因是类似于NPN型，其中电流流动必须是：黑笔→Ë→乙极极柱

→C→红色笔，其电流流向晶体管符号和也一致与箭头的方向，所以在这种情况下，黑笔必须是发射极接触E，红色引线连接必须是一个集电极C。

4、无法确定，如果可动嘴9014引脚图。

“沿着箭头，一个大偏转”测量过程的，因为如果前和指针的偏转后的两个测量值被反转太难以区分，这是必要的“动嘴”一个。具体方法是：在“前向箭头，大变形”的两次测量，分别用双手与捏住两个引线pin结，一个闩锁到所述口部（舌或反对）的乙电极组，仍然“沿着偏转大箭头”的确定方法可从所述集电极区域和所述发射极çE来分开。其中所述主体用作DC偏压电阻的目的是使更明显的效果。

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